掃描電子顯微鏡（SEM）是一種非常先進(jìn)的設(shè)備，世界上只有少數(shù)寶石學(xué)實(shí)驗(yàn)室可以使用它。該技術(shù)是面向表面的，并提供了非常高的表面形貌放大率。使用其他附件，可以獲得元素分析。

        基本特征包括細(xì)小電子流，它們以特定角度聚焦在樣品上，并以一系列平行線進(jìn)行掃描。在這種技術(shù)中，由于與高能入射束的碰撞，二次電子從樣品中發(fā)射出來。

此圖由兒童淘礦工場北京淡水河谷摘自網(wǎng)絡(luò)，如侵權(quán)請聯(lián)系刪除

        高能背散射電子被發(fā)射。這些是來自入射射線的電子，這些射線已經(jīng)與樣品相互作用，然后被反射出去。

        收集兩種發(fā)射的強(qiáng)度，并使用兼容軟件將其轉(zhuǎn)換為可見圖像。拋光的樣品可以提供更好的結(jié)果，因?yàn)樵诖植诘臉悠分?，變化是由于表面而不是?shí)際結(jié)構(gòu)引起的。

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        在大多數(shù)情況下，樣品必須涂有一層銀或金才能獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。

        這對于鑒定寶石，寶石的來源和處理（例如紅寶石中的玻璃填充物）很有用（因?yàn)樵谒衅渌岬降募夹g(shù)中，紅寶石熒光掩蓋了這些峰）。